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rohs测试仪的分析原理及性能介绍

发表时间:2021-10-23      点击次数:611
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等,而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件,相对简单。
XRF定量分析
必须注意的是:x射线荧光光谱分析值提供管制物质以元素形式存在与否的信息。必须特别注意例如Cr以及Br,所得的结果是总Cr和总的Br,而不反映其存在的形式。因此如果存在Cr,Br的时候,六价铬,PBB,PBDE必须使用确认测试程序进行确认。另一方面,如果没有Cr,Br的存在,那么就不可能存在Cr(VI),PBB,PBDE。
分析方法必须小心的执行校正,考虑:光谱干扰,基体效应以及其他影响,其可能影响荧光辐射的强度。
rohs测试仪性能
半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷
自动滤光片选择
多种准直器自动自由切换
三重安全保护模式
相互**的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
样品腔自动开关
软件定位样品平台,*小位移 0.01 mm
自动切换准直器和滤光片,分别针对不同样品
特别开发测量软件,操作界面十分友好
内置高清晰摄像头,方便用户随时检测样品
时尚的外型,带给您全新的视觉冲击
自动移动平台,更精确方便地调节样品位置
大幅提高光谱仪测量的确定性和精确度
配合自动移动平台全新开发的样品定位系统,实现“点”哪测哪
鼠标轻点样品视图中需要检测部位,EDX 3000D 将移动样品至**位置,完成检测。