rohs测试仪的分析原理及性能介绍

ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。

XRF定量分析

必须注意的是：x射线荧光光谱分析值提供管制物质以元素形式存在与否的信息。必须特别注意例如Cr以及Br，所得的结果是总Cr和总的Br，而不反映其存在的形式。因此如果存在Cr,Br的时候，六价铬，PBB，PBDE必须使用确认测试程序进行确认。另一方面，如果没有Cr,Br的存在，那么就不可能存在Cr(VI),PBB,PBDE。

分析方法必须小心的执行校正，考虑：光谱干扰，基体效应以及其他影响，其可能影响荧光辐射的强度。

rohs测试仪性能

半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷

自动滤光片选择

多种准直器自动自由切换

三重安全保护模式

相互**的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

样品腔自动开关

软件定位样品平台，*小位移 0.01 mm

自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品

特别开发测量软件，操作界面十分友好

内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品

时尚的外型，带给您全新的视觉冲击

自动移动平台，更精确方便地调节样品位置

大幅提高光谱仪测量的确定性和精确度

配合自动移动平台全新开发的样品定位系统，实现“点”哪测哪