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镀层分析仪,X射线荧光测厚仪

简要描述:镀层分析仪,X射线荧光测厚仪适用于镀层厚度测量及材料分析,具有无损,可靠,高生产力,高灵活性等优点,可用来定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量,广泛应用于电路板、半导体、电镀、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等工业中的功能性镀层电镀槽液中的成分浓度分析。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2021-09-15
  • 访  问  量:292

详细介绍

镀层分析仪,X射线荧光测厚仪

品牌:LANScientific/浪声

型号:TrueX COAT2

产品简介:

      苏州浪声科学仪器有限公司凭借多年XRF技术研发经验,融合镀层市场需求,设计岀的一款性能好的手持式XRF仪器。 TrueX COAT适用于金属厚度测量及材料分析,具有无损,可靠,高生产力,高灵活性等优点,可用来定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量,广泛应用于电路板、半导体、电镀、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等工业中的功能性镀层电镀槽液中的成分浓度分析。

 

镀层分析仪,X射线荧光测厚仪

产品特性:

多形式的数据输出:可以以PDF格式或者Excel格式制作分析数据报告。使用Excel格式导出数据时,还可在表格中对数据进行详细确认和编辑。用户还可自定义创建专业报告:包括公司标志、公司地址、检测结果、光谱谱图及其他样品信息(如产品描述、产地、批号等)。

完善的安全防护:在测量过程中,仪器左右两侧辐射指示灯自动呼吸闪烁,内置DoubleBeam™ 技术自动感知仪器前方有无样品,提高射线的安全性和防护等级。准确可靠的定性定量方法,集成了浪声前沿的Super-FP算法、校正曲线法等先进算法,使得仪器不仅测量速度更快,测量准确性更高,测量一致性更强。

高品质进口探测器:仪器选用适合于多元素镀层的分析进口探测器噪音小,可灵活地应对未来镀层结构。

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