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当前位置:首页  >  产品中心   >  镀层厚度分析(CTA)  >  晓INSIGHT 镀层分析仪

  • 晓INSIGHT 镀层分析仪使用微聚焦X射线管将X射线源的大部分射线收集并汇聚成微束斑,照射在样品位置,从而获得良好的空间分辨率及很强的荧光信号,通过能谱探头及后续的数据处理器等采集、处理并评价样品被辐照后产生的荧光信号,得出样品的成分信息。它可实现更复杂应用的快速测量和精准分析,是对不均匀或形状不规则的未知样品以及微观物体进行元素分析的理想方法。

    更新日期:2022-09-23
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    厂商性质:生产厂家
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