Product
当前位置：首页 / 产品中心 / 镀层厚度分析（CTA） > INSIGHT系列(桌面式) > INSIGHT PCB、晶圆版
简要描述：镀层作为保证电子行业产品质量可靠性和稳定性的主要工艺，其厚度是产品质量的最重要保证因素，因此，对镀层厚度的质量控制/保证至关重要，X射线荧光（XRF）因为其非破坏性、测量快速、易于使用，已成为一种广泛使用的镀层厚度和成分测量技术。
产品型号
厂商性质
更新时间
浏览次数
产品分类
晓INSIGHT专为微光斑和超薄镀层分析而设计，可提供极高的计数率，用于测量小于 50 µm 的特征上的纳米级镀层，并提供高精度的检测结果，同时保持较短的测量时间，这借助于其内部采用高强度毛细管光学系统和高灵敏度的检测器。帮助诸多的PCB、半导体等电子相关行业轻松应对超薄镀层带来的检测挑战，有效提高生产力，确保符合规范，以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。
使用优势
多准直器组件
可选配多准直器组合自动切换，使得晓INSIGHT的多功能性得以显著提升，以灵活应对不同尺寸的零件。
上照式设计
仪器采用上照式设计，可轻松实现对超大型、不规则、微小件、甚至液体形态样品的快、准、稳高效测量。
高强度X射线管
晓INSIGHT可选配高强度毛细管光学系统，可为仪器带来更高的计数率、 更小的点位测量，更薄的镀层测量，有助于将仪器的分析效率翻倍。
可编程自动位移样品台
选配自动平台，轻松实现自动测量，可以更快的准备和测量样品，从而提高分析量。
一键式测量
配备直观而智能的分析软件，操作简单，任何人无需培训都可以测试样品，仅仅需要点击“开始测试”，数十秒即可获得检测结果啦。
提高生产力
晓INSIGHT自动化功能帮助您可以更快地测量样品，从而提高您的分析量。
超大测量室
仪器壳体的开槽设计（C型槽）使得测量空间宽大，样品放置便捷，可以测量如印刷线路板类大而平整的物品，也可以放置形状复杂的大样品。
高灵敏度的检测器
对于复杂的镀层结构，SDD系列检测器更易分析具有类似XRF特征的元素，具有更佳分辨率、更低的背景噪声（最高 S/N 比），并且可以更精确地测量较薄镀层。
自动对焦
无论样品厚薄或大小如何，都可在几秒钟内自动对样品进行对焦。可从远至80毫米的距离测量样品，非常适合测量具有凹陷区域的零件，或者适用于测量不同高度的多个样品。
应用场景
|  连接器镀层 |
|
引线框架 |
|
相关文章
上一篇 
