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INSIGHT PCB、晶圆版

简要描述:镀层作为保证电子行业产品质量可靠性和稳定性的主要工艺,其厚度是产品质量的最重要保证因素,因此,对镀层厚度的质量控制/保证至关重要,X射线荧光(XRF)因为其非破坏性、测量快速、易于使用,已成为一种广泛使用的镀层厚度和成分测量技术。

基础信息

产品型号

INSIGHT 500/INSIGHT 530/INSIGHT 560/INSIGHT μ-Spot

厂商性质

生产厂家

更新时间

2024-07-05 09:27:37

浏览次数

731
详细介绍

晓INSIGHT专为微光斑和超薄镀层分析而设计,可提供极高的计数率,用于测量小于 50 µm 的特征上的纳米级镀层,并提供高精度的检测结果,同时保持较短的测量时间,这借助于其内部采用高强度毛细管光学系统和高灵敏度的检测器。帮助诸多的PCB、半导体等电子相关行业轻松应对超薄镀层带来的检测挑战,有效提高生产力,确保符合规范,以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。



使用优势


多准直器组件

可选配多准直器组合自动切换,使得晓INSIGHT的多功能性得以显著提升,以灵活应对不同尺寸的零件。


上照式设计

仪器采用上照式设计,可轻松实现对超大型、不规则、微小件、甚至液体形态样品的快、准、稳高效测量。


高强度X射线管

晓INSIGHT可选配高强度毛细管光学系统,可为仪器带来更高的计数率、  更小的点位测量,更薄的镀层测量,有助于将仪器的分析效率翻倍。


可编程自动位移样品台

选配自动平台,轻松实现自动测量,可以更快的准备和测量样品,从而提高分析量。


一键式测量

配备直观而智能的分析软件,操作简单,任何人无需培训都可以测试样品,仅仅需要点击“开始测试”,数十秒即可获得检测结果啦。


提高生产力

晓INSIGHT自动化功能帮助您可以更快地测量样品,从而提高您的分析量。


超大测量室

仪器壳体的开槽设计(C型槽)使得测量空间宽大,样品放置便捷,可以测量如印刷线路板类大而平整的物品,也可以放置形状复杂的大样品。


高灵敏度的检测器

对于复杂的镀层结构,SDD系列检测器更易分析具有类似XRF特征的元素,具有更佳分辨率、更低的背景噪声(最高 S/N 比),并且可以更精确地测量较薄镀层。


自动对焦

无论样品厚薄或大小如何,都可在几秒钟内自动对样品进行对焦。可从远至80毫米的距离测量样品,非常适合测量具有凹陷区域的零件,或者适用于测量不同高度的多个样品。


应用场景



电路板.jpg

印刷电路板



应用场景4.jpg


连接器镀层




应用场景6.jpg

晶圆制造(半导体)





应用场景.jpg


引线框架

电路板1.jpg

ENIG






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