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当前位置：首页 / 产品中心 / 镀层厚度分析（CTA） > ScopeX PILOT镀层测厚仪 > 浪声镀层测厚仪 X荧光镀层测厚仪
简要描述：镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。 ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计，搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术，以及高敏变焦测距装置，对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，都能够快速、精准、无损检测，可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题，被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种领域。
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使用优势
测试各类极微小的样品，即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。
多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合，使得仪器的多功能性得以显著提升，以灵活应对不同尺寸的零件。
从下往上测量，无需额外对焦，可轻松实现对镀层样品的高效测量。
X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非常安全的。
可对各种异形凹槽样品进行检测，凹槽深度测量范围可达0~30 mm。
搭载高精度手调X-Y平台，最高精度可达25μm，使微区测量更便捷。
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