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浪声镀层测厚仪 X荧光镀层测厚仪

简要描述:镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。 ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计,搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术,以及高敏变焦测距装置,对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的样品,都能够快速、精准、无损检测,可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题,被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种领域。

基础信息

产品型号

ScopeX PC3

厂商性质

生产厂家

更新时间

2024-05-28 15:44:13

浏览次数

19
详细介绍


使用优势

可选配微焦X射线装置

测试各类极微小的样品,即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。

多准直器/滤光片

多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合,使得仪器的多功能性得以显著提升,以灵活应对不同尺寸的零件。

下照式设计

从下往上测量,无需额外对焦,可轻松实现对镀层样品的高效测量。

无损检测

X射线荧光是无损分析过程,不留任何痕迹,即使是对敏感性材料,其测量也是非常安全的。

变焦装置

可对各种异形凹槽样品进行检测,凹槽深度测量范围可达0~30 mm。

高精度手调X-Y平台

搭载高精度手调X-Y平台,最高精度可达25μm,使微区测量更便捷。


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